植入式心律转复除颤器（implantable cardioverter-defibrillator，ICD）是目前一、二级预防的标准治疗方法。随着植入指征的放宽，ICD治疗给预后和生活质量可能带来的不良后果也日益引起关注。一些文章曾报道，无论是恰当的还是不当的ICD治疗都会增加死亡和心衰恶化的风险。为降低这些不良后果，已经有研究开始关注通过修改抗心动过速起搏（antitachycardia pacing，ATP）运算法则或通过延长心律失常检测间隔来找出ICD设备的最佳编程策略。

    为明确在自发性快速室性心律失常（ventricular arrhythmias，VT）发作时，与标准检测间隔相比，更长的检测间隔是否能减少ATP和电击，意大利Humanitas临床研究中心的Maurizio Gasparini等开展了一项随机、单盲、平行组试验。

    该研究纳入1902例由于缺血或非缺血性原因接受一、二级预防的患者（平均年龄65岁，84%为男性，75%采取ICD作为一级预防），2008年3月~2010年12月，他们接受了初次ICD。患者按照1:1的比例随机进入长（n=948）或标准（n=954）检测间隔编程组。

    主要结果：因VT发作而导致的ATPs和电击的总数。次要结果：不恰当电击、病死率、晕厥率。

    结果显示，中位随访12个月期间，长检测间隔组实施了346次治疗（42次治疗/100人年），而标准检测间隔组为557次（67次治疗/100人年），发生率比（incident rate ratio，IRR）0.63，P<0.001。长检测间隔和标准检测间隔组分别经历了23次ATPs/100人年和37次ATPs/100人年（IRR 0.58；P<0.001）；19次电击/100人年和30次电击/100人年（IRR 0.77；P=0.06），两组治疗事件发生几率有显著差异（P<0.001）；长检测间隔组不当电击发生率降低（5.1/100病人年 vs 11.6/100病人年；IRR 0.55；P=0.008）。病死率（5.5/100病人年 vs 6.3/100病人年；HR 0.87；P=0.50）和心律失常性晕厥率（3.1/100病人年 vs 1.9/100病人年；IRR 1.60；P=0.22）组间无显著差异。

    该研究表明，在接受ICD的患者中，长检测间隔相对于标准检测间隔而言会使ATP、电击率以及不当电击发生率降低。这一编程策略或许是标准策略的恰当替代方法。（作者：白蕊）

参考文献：《Journal of the American Medical Association》2013;309:1903-1911